CODEFI : Analyse des Contraintes et DEformations dans les FIlms épitaxiés - C2N
Le réseau national de technologie RENATECH du CNRS et la Plateforme de Nanocaractérisation PFNC du CEA disposent de moyens de caractérisation ultra-performants, reconnus à l’échelle mondiale, et d’une expertise pointue en analyse et traitement de données. Portés par le PEPR Electronique, ces deux acteurs clés ont lancé quatre groupes de travail thématiques pour dynamiser les échanges entre experts :
- analyse structurale et morphologique,
- analyse chimique,
- 3D & numérique,
- optique.
Dans ce cadre, le programme d’échange entre Renatech et la PFNC à organisé son tout premier workshop thématique dédié aux techniques d’analyse des déformations et contraintes dans les films minces épitaxiés.
80 personnes du CNRS, des universités, du CEA et de nos partenaires industriels se sont réunis les 12 et 13 janvier 2026 C2N lors du workshop CODEFI. Les experts ont en particulier discuté des atouts, des limites et des complémentarités de chaque technique d’analyse DRX, Mesures de courbure, Raman, PL, CL, MET, SAT.