CODEFI : Analyse des Contraintes et DEformations dans les FIlms épitaxiés - C2N
Le réseau national de technologie RENATECH du CNRS et la Plateforme de Nanocaractérisation PFNC du CEA disposent de moyens de caractérisation ultra-performants, reconnus à l’échelle mondiale, et d’une expertise pointue en analyse et traitement de données. Portés par le PEPR Electronique (https://www.pepr-electronique.fr/fabrication-et-caracterisation/), ces deux acteurs clés ont lancé quatre groupes de travail thématiques pour dynamiser les échanges entre experts : analyse structurale et morphologique, analyse chimique, 3D & numérique, et optique. Dans ce cadre, le programme d’échange entre Renatech et la PFNC vous convie à son tout premier workshop thématique dédié aux techniques d’analyse des déformations et contraintes dans les films minces épitaxiés.